庄和闲

　
GIS局放试验方法

    GIS局放采用特高频法和超声波法检测

，可根据实际情况选择传感器类型，亦可多种检测方法同时使用。特高频检测法可有效检测GIS内部的由悬浮颗粒、导体和壳体上的突起、盆式绝缘子内部绝缘缺陷等原因引起的局部放电。特高频传感器的检测频率范围：300MHz～1.5GHz
，由于检测频率高可有效的避免现场干扰
。超声波检测法可以检测、识别和定位GIS中的局部放电故障或振动的微粒，不需要预先在GIS上安装内部耦合器和传感器
，检测时可在胸前背挎本仪器，手持传感器在GIS的任意位置进行检测。超声传感器的频率范围
：20kHz～120kHz
。

系统功能特点如下：

    1)方便携带：该系统体积小、重量轻，采用电池供电适用于现场巡检。

    2)操作简单
、功能强大
：能够简单测量GIS运行中良好、预警、故障三个状态
，也可以实现实时波形观察
、放电趋势显示
、放电类型判别等复杂功能
，单台便携式GIS局部放电检测系统即可完成所有GIS的检测。

    3)使用方便对运行设备无伤害：无需改造现有的GIS，所有的检测对GIS设备的运行不产生任何影响
。

    4)多样化检测方式：该系统的检测方式有特高频检测法、超声波检测法
，几种方式可同时、单独使用，发挥各自优势，实现全功能检测。

    5)高灵敏度：在现场可测局部放电灵敏度≤-80dBμV（或＜5pC）
。对绝大多数缺陷引起的放电具有很高的灵敏度
；先进的测试技术可以保证测量到5pC的局部放电信号
，可以探测到小于2mm的自由颗粒，可以探测各种各样的颗粒
，对颗粒进行定位，并判断是否活动，是否有害，有害程度如何。

    6)高真实性
：由于超声波测量法、特高频测量法对现场干扰不敏感，保证了测量的真实性。

    7)专家诊断系统
：该系统可对GIS设备产生的放电进行诊断评估
，根据由不同缺陷产生的放电特点不同识别缺陷类型，并且做出危险评估，能够检测的缺陷类型有
：自由颗粒、导体上的突起、悬浮屏蔽等。